Williams D., Fairbrass S. Laser Surface Profilometry in Materials Conservation // ICOM Committee for Conservation, 11th Triennial Meeting, Edinburgh, Scotland, 1-6 September 1996, Preprints. – Paris, 1996. – Vol. II. – P. 978-980 (англ.).

Сообщается о лазерной профилометрии поверхности, представляющей собой новый, неразрушающий метод определения монографических особенностей поверхности материалов. Возможно получение изображения любого образца, если его поверхность отражает по меньшей мере 2% света при длине волны лазера 780 nm.