ГОсНИИРГосударственный научно-исследовательский институт реставрации

Grieser W. M., Denker A., Musner H., Maier K.H. Non-Destructive Investigation of Paint Layer Sequences // IIC Melbourne Congress 2000, Tradition and Innovation: Advances in Conservation, 10-14 October 2000 (англ.).

В работе сообщается об исследованиях применения высокоэнергетического (68 Me V) индуцированного протонами рентгеновского излучения (PIXE) для изучения состава, последовательности нанесения и толщины красочных слоев в образцах, имитирующих традиционные методы живописи. Отдельные участки образцов исследовались с помощью обычного анализа поперечных срезов и методом PIXE с тем, чтобы сравнить и выявить ограничения применения обоих методов. Наблюдалось очевидное преимущество метода PIXE. Кроме того, что он не разрушает образец, он способен быстро и эффективно анализировать множество участков на поверхности предмета. Недостатки метода связаны со сложностью определения последовательности слоев краски, содержащих более сложные сочетания пигментов. Следовательно, метод PIXE лучше всего использовать в дополнение к анализу поперечных срезов, с тем, чтобы, например, получить информацию о технике живописи и подготовки доски.

Мы используем cookie

Во время посещения сайта gosniir.ru (Федеральное государственное бюджетное научно-исследовательское учреждение «Государственный научно-исследовательский институт реставрации») вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ.
Подробнее...

ПОНЯТНО, СПАСИБО